噴淋拒水測(cè)試儀如何操作

噴淋拒水測(cè)試儀如何操作

　　噴霧定量測(cè)試儀用于測(cè)定織物的表面潤(rùn)濕性。它包括一個(gè)金屬框架允許蒸餾水通過(guò)噴嘴噴射到試樣在45°和150毫米低于噴嘴。將標(biāo)本的外觀與可選的攝影比例尺進(jìn)行比較。

測(cè)試儀符合

ISO 4920、AATCC 22、M&S P23標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T4745-1997   《紡織織物  表面抗?jié)裥詼y(cè)定  沾水試驗(yàn)》 

AATCC 22-10

ISO 4920-12/ GB/T 4745-12

M&S P23

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　　1. 安全

　　本節(jié)介紹貫穿本手冊(cè)的安全標(biāo)志。在使用噴霧等級(jí)測(cè)試器之前，請(qǐng)閱讀并理解所有的警告和警告。

　　危險(xiǎn)!指示忽略指令可能會(huì)導(dǎo)致操作人員處于危險(xiǎn)狀態(tài)。

　　2. 規(guī)范

　　物理

　　長(zhǎng)度:26厘米

　　寬度:26厘米

　　高度:55厘米

　　結(jié)構(gòu):鋼

　　完成:噴涂油漆

　　船舶重量:5公斤

　　3. 安裝

　　3.1 設(shè)置

　　打開(kāi)噴霧等級(jí)測(cè)試儀后，將儀器置于溫濕度穩(wěn)定的房間內(nèi)平整光滑的表面。

　　操作

　　5.1 校準(zhǔn)裝置,將250毫升蒸餾水27±1℃(80±2)漏斗的測(cè)試和測(cè)量所需的時(shí)間空的漏斗。

　　5.2 將試樣牢固地固定在直徑152.4 mm (6.0 in)的環(huán)內(nèi)，使織物試樣表面暴露在水霧中。試樣表面應(yīng)光滑無(wú)褶皺。

　　5.3 將呼拉圈放在織物zui上面的試驗(yàn)臺(tái)上，使噴霧圖案的中心與呼拉圈的中心重合。

　　5.3.1 如果是細(xì)紗、華達(dá)呢、燈芯布或類(lèi)似結(jié)構(gòu)的織物，將鐵環(huán)放在架子上，使織物的方向與zui終產(chǎn)品的方向一致。

　　5.4 倒入250毫升蒸餾水27±1℃(80±2)測(cè)試人員的漏斗,允許它噴到25 - 30年代的試樣。

　　5.4.1 注蒸餾水時(shí)，避免用刻度筒接觸漏斗。漏斗的移動(dòng)將改變?cè)嚇由系膰婌F分布。

　　5.5 箍,底部邊緣,利用相反的邊緣堅(jiān)決反對(duì)一個(gè)堅(jiān)實(shí)的對(duì)象與織物所面臨的對(duì)象,然后旋轉(zhuǎn)180°箍,再一次在點(diǎn)之前舉行。

　　5.6 對(duì)所有三個(gè)樣本重復(fù)5.2到5.5。

　　5. 評(píng)價(jià)

　　6.1 點(diǎn)擊后立即將水或斑點(diǎn)圖案與評(píng)分表進(jìn)行比較。對(duì)樣品的表面進(jìn)行評(píng)級(jí)，該評(píng)級(jí)與評(píng)級(jí)圖表中zui近的級(jí)別相對(duì)應(yīng)。

　　6.2 中級(jí)評(píng)級(jí)可用于50或更高的評(píng)級(jí)(95、85、75、60)。(見(jiàn)圖1、表1)

6.3 在對(duì)松散的織物或多孔織物(如巴里紗)進(jìn)行分級(jí)時(shí)，不考慮水通過(guò)織物開(kāi)口的任何通道。

　　圖1噴霧試驗(yàn)分級(jí)圖

　　評(píng)級(jí)相應(yīng)的攝影

　　100(ISO 5)上表面無(wú)粘附、潮濕現(xiàn)象

　　90(ISO)表面輕微的隨機(jī)粘附或潤(rùn)濕

　　80(ISO)噴淋點(diǎn)上表面的潤(rùn)濕

　　70(ISO)上表面局部濕潤(rùn)

　　50(ISO 1)整個(gè)上表面*濕潤(rùn)

　　表1噴霧試驗(yàn)分級(jí)表

主要經(jīng)營(yíng)的產(chǎn)品包括：汽車(chē)內(nèi)外飾刮擦測(cè)試儀器，顏色及色彩評(píng)價(jià)、顯微及法政檢驗(yàn)、床墊測(cè)試儀器、地毯測(cè)試儀器、玩具測(cè)試儀、濕度測(cè)量&控制系統(tǒng)、土壤溫濕度計(jì)附件、紡織及服裝、無(wú)及土工布測(cè)試儀、透氣性測(cè)試儀、單向耐磨儀、皮革及鞋材測(cè)試儀、過(guò)濾材料測(cè)試儀、交通工具類(lèi)測(cè)試儀、 耐候及老化測(cè)試儀、高加速老化測(cè)試系統(tǒng)、烘箱環(huán)境設(shè)備、輕工及包裝材料測(cè)試儀、電子電器測(cè)試儀、光化光譜及其它測(cè)試儀。